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电子束加热样品架

内置加热丝, 可电子束或辐射加热样品

可测量样品/晶体温度

样品安装方便

独立的样品加热丝电接头

样品可快速冷却

电子束加热样品架数据页(191 kB pdf)

加热样品架是一个高度通用的带有内置温度传感器的可变温样品架。样品可通过辐射或电子轰击加热。模块化设计保证了样品种类和形状选择的高度灵活性，而且保证样品安装简单迅捷。电子束加热样品架也和许多商用扫描探针显微镜兼容。.

样品

各种几何形状的样品可以通过一个简单的相同形状的盖片封装(如帽状，碟状，饼状等).

样品和样品架接触，处于等电位。如果和 Dodecon 样品架操作台联合使用，可以方便的读取沉积或轰击时的离子流数值.

模块化设计使得样品和加热模块容易分离，便于安装和更换样品.

温度测量

样品实际温度可以通过连接在样品背面的热电偶准确地测出 (精度 ~ 5 K).

测量温度范围： 5 –1500 K (K-型热电偶). 其它测量范围可订做.

温度读取通过热电偶和 Dodecon样品架操作台上的弹性热电偶触头接触来实现.

样品加热

一个内置的加热模块包含一个独立的钨丝，允许

辐射加热 (可加至500 K);

电子束轰击加热 (可加至1200 K).

在钨丝上加负高压可以进行电子书轰击加热 (电压加到 1.2 kV, 激发电流可达 18 mA)

电子束加热尤其适用于要求快速和高温退火的样品(快速退火, 例如金属晶体制备).

灯丝电流和高压通过和 Dodecon 样品架操作台上的弹性电触头接触来实现.

样品冷却

用液氮降到降到97 K (样品架安装在 Dodecon 样品架操作台).

用液氦降到降到 40 K (样品架安装在 Dodecon 样品架操作台).

技术数据

样品横向最大尺寸	9 mm
样品最大高度	与应用相关
热电偶	K 型(5-1500 K) 其它类型可订做
样品加热	可加至 500 K (辐射) 可加至 1200 K (电子束)
灯丝最大电压	-1.2 kV
灯丝最大电压	18 mA
样品冷却*	降到 97 K (液氮) 降到40 K (液氦)

* 样品架安装在 Dodecon 样品架操作台

用Dodecon电子束加热样品架获得的Ag(001) 表面的原子分辨率STM图像.

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